[实用新型]可调式测试平台

说明书

【技术领域】

本实用新型是有关于一种可调式测试平台。

【背景技术】

一般产品于生产制造后通常须经过组装或质量测试的程序，尔后方能出厂供市场消费者购买使用，通常于组装及测试时有时会运用到辅助的器具，以利于组装及测试动作的顺利进行，使组装及测试动作简单且标准化，以此能增进工作效率。如欲以探针来检测电路元件时，若无辅助的器具，则使用者势必手握探针针对电路元件一个一个来作检测动作，如此长时间的检测动作作下来使用者必定感到手部疲惫不堪，同时可能导致检测动作不正确，无法使探针保持精确的垂直下移探测角度，遇到试件多时，探针须针对电路元件一个一个来检测，其检测工作的效率亦不佳。

【实用新型内容】

本实用新型的目的，是在提供一种可调式测试平台，能辅助使用者便捷地作检测动作，以增进工作效率。该检测装置的上框能于使用时向下位移适当的距离，而能方便使用者作检测试件的动作，令检测的动作标准化且能增进产品品质管理检测的效益，另外能调整上框架的下移距离，以改变检测装置的向下探测距离，以适用于不同试件的测试状态。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种可调式测试平台，其特征在于：包含有：

一底座，内部容置相关的电子配线，该底座上方具有穿槽，使测试用探针的配线由穿槽引出，底座前侧设有数个控制钮，底座的一侧则设有数个插座；

一测试架，底部延伸突出的下框，于测试架侧设有握柄，该握柄连设一驱动轴，该驱动轴穿设于测试架中，该驱动轴被测试架中的二对应支架所支撑，该驱动轴并连接一肘杆连动机构，该肘杆连动机构的动力输出端与上框连结，上框两侧通过底部设的孔套设于测试架中所设的二对应滑柱上，于上框下方该滑柱上还套设有弹性件，于上框上方则设有软性卡抵块，该上框抵触该卡抵块。

以上述构件的组合，当使用时能于上框、下框上分别装设检测装置如探针及试件(如电路板)，藉由握柄下压使肘杆连动机构带动上框下移一适当固定的距离，以方便探针对试件作一检测，使检测的动作标准化且能增进产品品质管理检测的效益。

所述的可调式测试平台，其特征在于：该肘杆连动机构是于该二支架中间的该驱动轴上设有活动的原动件，该原动件前端枢接匚形连杆，该连杆一端与一摇臂相枢接，该摇臂端枢设于支架中，另端与一调整块枢接，该调整块作为动力输出端而与该上框连结，以握柄的下压藉由肘杆连动构造的运动使调整块下移。

所述的可调式测试平台，其特征在于：该上框的下部可设一突块，该调整块是以二螺件而锁固于该突块中，另于测试架相对应于该二螺件设置处开有穿孔，以便可供螺丝刀伸入测试架中去调整该调整块的位置，以调整上框向下位移的距离。

本实用新型的可调式测试平台，能辅助使用者便捷地作检测动作，以增进工作效率。该检测装置的上框能于使用时向下位移适当的距离，而能方便使用者作检测试件的动作，令检测的动作标准化且能增进产品品质管理检测的效益。

本实用新型的可调式测试平台，能改变向下探测距离。只要对其肘杆连动机构作一调整，即可以改变上框的下移距离，进而能调整检测装置的向下探测距离，以适用于不同试件的测试状态。

以下通过具体实施例，且结合附图作详细的说明，以便能对于本实用新型的各项功能、特点，有更进一步的了解与认识：

【附图说明】

图1是本实用新型握柄未下压时的立体外观示意图。

图2是本实用新型握柄下压时的立体外观示意图。

图3是本实用新型的立体分解示意图。

图4A是本实用新型的组合剖视示意图。

图4B是图4A的局部放大图。

图5是本实用新型使用时握柄下压的实施状态示意图。

图6A是图5的剖视构造示意图。

图6B是图6A的局部放大图。

图7是本实用新型的调整块能作位移调整的剖视示意图(图中显示握柄尚未下压)。

图8是图7于握柄下压时的剖视示意图。

【具体实施方式】

请同时参阅图1、图2、图3、图4所示，本实用新型的可调式测试平台，包含有一稳固的底座10、一侧具活动式握柄21的测试架20，其中：

底座10，内部可容置相关的电子配线，而底座10上方于适当位置具有穿槽11，使测试用探针的配线可由此引出，底座10前侧具有数个设定控制钮12，底座10的一侧则设有数插座13，以便能连结相关的显示界面如电脑(请同时参阅图5所示)，令使用者能更快速地了解到试件的检测状态；