[实用新型]一种电子探针无效

专利信息
申请号: 02210094.6 申请日: 2002-02-02
公开(公告)号: CN2525522Y 公开(公告)日: 2002-12-11
发明(设计)人: 张秀英 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子探针
【说明书】:

技术领域:本实用新型属于电子学检测应用技术领域,涉及一种电子探针的改进。

背景技术:已有电子探针由探针头1、手柄2、导线3组成,这种结构的探针的探针头1的一端与导线3焊接为一体,探针头1与手柄2固定连接,这种探针的缺点是:探针头较粗不适于小尺寸电子线路板使用,不适于电子线路板被测部位呈各种形状的元件头或凹凸处,也不适于检测不同尺寸电缆线的多针插头,检测时需要两个人,浪费人力,给使用带来不方便。

发明内容:本实用新型的目的是为了解决背景技术探针头不适对小尺寸电子线路板和形状各异的元件凹凸部位等使用的问题,本实用新型将提供一种适于电子学检测、应用范围广的电子探针。它由手柄1、导线2、触点3、外螺纹4、带内螺纹的螺旋探针接线座5、探针6、探针头7组成,手柄1内有螺旋探针接线座5、触点3和导线2,螺旋探针接线座5本体的一端制备内螺纹,探针6的一端制备外螺纹4,在螺旋探针接线座5本体的另一端制备触点3,螺旋探针接线座5上的触点3的一端与导线2连接,探针6的外螺纹4与螺旋探针接线座5一端的内螺纹尺寸相同配套连接在一起,在探针6的本体上制备有探针头7,探针6和探针头7根据不同需要制成不同尺寸和各种形状的结构。

当使用本实用新型时:探针直接将检测部件或仪器与被检测部件或仪器连接,则完成检测部件或仪器与被检测的部件或仪器之间信号的传递。

本实用新型的积极效果:由于采用不同型号的探针与螺旋探针接线座的连接关系,可根据实测需要方便更换不同尺寸和不同型号的形状探针,检测时只需要一个人,节省了人力,给使用带来极大的方便。适于小尺寸电子线路和形状凹凸元件使用,也适于检测不同尺寸电缆线的多针插头,还可适于示波器及其它检测仪器。该电子探针是一种可分离,且根据各种实际检测需要可任意组装的多功能装置,探针型号种类多,适用性强,操作简单,成本低,用途广泛,易于技术移植,推广和产品化。

附图说明:

图1是背景技术的结构示意图

图2是本实用新型的结构示意图

图3是本实用新型的外螺纹与内螺纹的连接关系示意图

图4是本实用新型触点的结构示意图

图5是本实用新型不同型号探针的结构示意图

具体实施方式如图2所示:它由手柄1、导线2、触点3、外螺纹4、带内螺纹的螺旋探针接线座5、探针6、探针头7组成,带内螺纹的螺旋探针接线座5采用金属导电材料制成,手柄1采用绝缘材料制成。不同型号的探针6和触点3采用金属导电材料制成。螺旋探针接线座5的内螺纹和探针6的外螺纹4采用尺寸配套的螺距。在探针6的本体上制备有探针头7,探针6和探针头7根据不同需要制成不同尺寸和各种形状的结构如图5所示:

图中a:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ2,探针头7为φ0.4。

图中b:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ1.6,探针头7为φ0.4。

图中c:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ1,探针头7为φ0.3。

图中d:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ2,探针头7为凹形R为0.7。

图中e:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ0.9,探针头7为凸形R为0.45。

图中f:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ2,探针头7为空心、壁厚为0.4、深为5。

图中g:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ2,探针头7为凹形R为1。

图中h:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ1,弯30℃、长5、探针头7为凸形状R为0.5。

图中i:探针外螺纹4选用M3×6,其本体为φ1.6、弯30℃、长6、探针头7为空心、壁厚为0.3、深为6。

上述探针6的长度可选择范围为20mm~35mm,探针6的长度可根据实际需要选用不同的长度。探针6的外螺纹4和螺旋探针接线座5的内螺纹可根据实际需要选用不同的形状和尺寸,探针6本体上的形状、尺寸可根据实际需要选用不同的形状和尺寸,探针6本体上的探针头7的形状、尺寸可根据实际需要选用不同的形状和尺寸,螺旋探针接线座5和触点3的形状、尺寸可根据实际需要选用不同的形状和尺寸。

电子探针由螺旋探针接线座和不同型号的探针组成,两者可分离,可任意组装,使用时两者通过尺寸相同、配套的内螺纹和外螺纹连接在一起。如图3所示:不同型号的探针的本体可制成各种尺寸的圆柱体或圆锥体,其探针头部位可制成各种尺寸和各种形状的接触结构,使用时根据被测元件尺寸和凸凹形状的不同需要,可更换不同型号的探针。适合被测元件部位呈不同尺寸和各种接触形状的凸凹处。

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