[实用新型]硬度计自动试样载物台装置无效
申请号: | 02216743.9 | 申请日: | 2002-04-11 |
公开(公告)号: | CN2533464Y | 公开(公告)日: | 2003-01-29 |
发明(设计)人: | 徐永良 | 申请(专利权)人: | 上海恒一电子测试设备有限公司 |
主分类号: | G01N3/40 | 分类号: | G01N3/40 |
代理公司: | 上海东亚专利代理有限公司 | 代理人: | 陈树德 |
地址: | 200023 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 硬度计 自动 试样 载物台 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及硬度计,尤指计算机控制自动试样载物台装置。
背景技术
目前金属维氏硬度计试样台,仅为一圆形台面,其工作效率低,操作不便。
发明内容
本实用新型的目的在于:提供一种可作X、Y两方向在30×30毫米范围内任意移动的硬度计自动试样载物台装置,本试样载物台由计算机控制其行程大小,其移动距离可在行程读数标尺和刻度读数盘读得。
为达上述目的,本实用新型的硬度计自动试样载物台装置,由驱动装置和试样台组成,驱动装置,包含:精密丝杆螺纹副、驱动马达、行程限位开关、行程读数标尺、刻度读数盘,试样台,包含:上滑板、中滑板、下滑板、导轨副、钢球、定位连接轴,其中试样台,由二组X轴方向的滑板组和二组Y轴方向的滑板组组成,其底部中心有一定位连接轴,用于试样台与硬度计升降轴之间定位连接;每个滑板组,由导轨副分别安装在上滑板、中滑板、下滑板上,每对导轨副之间有一组钢球,用螺钉与滑板固接;二驱动装置,分别由X轴方向和Y轴方向与试样台联接,每个驱动装置的外壳顶面设有一行程读数标尺,在Y轴方向的驱动装置的一侧,设有一计算机连线插座,驱动装置壳体内设有精密丝杆螺纹副和驱动马达,所述的精密丝杆螺纹副,由精密丝杆、螺帽、螺帽座、螺帽座支架组成,螺帽、螺帽座、螺帽座支架用螺丝固接,螺帽座支架与滑板连接,精密丝杆通过联轴器与驱动马达的输出轴联接,驱动马达的另一端与装在壳体外的刻度读数盘联接,驱动马达通过电线与计算机连线插座连接,受控于计算机,在驱动装置壳体内一侧设有二行程限位开关,用以控制试样台在其行程范围内移动。
本实用新型的优越功效在于:
1,导轨副采用优质铬轴承钢淬火衍磨加工,精度高,其承载荷力大,可承重80公斤。
2,精密丝杆螺距误差小,精度高,行程重复性精度高达±0.002毫米。
3,试样台可在X、Y轴方向30×30毫米范围内任意移动。
4,可用手动调整和计算机控制操作,试样台移动距离可在行程读数标尺和刻度读数盘读得。
附图说明
图1为本实用新型俯视结构部分剖视图。
图2为本实用新型正视部分剖视图。附图中标号说明:
1……驱动装置 11……计算机连线插座
12……行程读数标尺 13……刻度读数盘
14……精密丝杆螺纹副 141……精密丝杆
142……螺帽 143……螺帽座
144……螺帽座支架 15……行程限位开关
16……支架座 17……联轴器
18……驱动马达
2……试样台 21……钢球
22……中滑板 23……导轨副
24……下滑板 25……上滑板
26……定位连接轴
具体实施方式
首先请参阅图1、2所示,本实用新型由二驱动装置1从X、Y轴方向与试样台2连接组成,其中试样台2,由二组X轴方向的滑板组和二组Y轴方向的滑板组组成,其底部中心有一定位连接轴26,用于试样台2与硬度计升降轴之间定位连接;每个滑板组,由导轨副23分别安装在上滑板25、中滑板22和下滑板24上,每对导轨副23之间有一组钢球21,用螺钉与滑板固接;二驱动装置1,分别由X轴方向和Y方向与试样台2联接,每个驱动装置1的外壳顶面设有一行程读数标尺12,在Y轴方向的驱动装置1一侧,设有一计算机连线插座11(请再参阅图2所示),其壳体内设有精密丝杆螺纹副14和驱动马达18,所述的精密丝杆螺纹副14,由精密丝杆141、螺帽142、螺帽座143、螺帽座支架144组成,螺帽142、螺帽座143、螺帽座支架144用螺丝固接,螺帽座支架144与滑板连接精密丝杆141通过联轴器17与驱动马达18的输出轴联接,驱动马达18的另一端与装在壳体外的刻度读数盘13联接,驱动马达18通过电线与计算机连线插座11连接,受控于计算机;驱动马达18旋转而使精密丝杆螺纹副14作往复运动,从而做X、Y两方向运动。在壳体内一侧设有二行程限位开关,用以控制试样台在其行程范围内移动,以保护精密丝杆螺纹副14等重要零件不受损害。通过调整,可校正上、中滑板的平直度,以保证其移动舒适、灵活、无空隙,从而保证了试样台的运行精度,试样台移动距离可在行程读数标尺和刻度读数盘读得。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海恒一电子测试设备有限公司,未经上海恒一电子测试设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/02216743.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光电收发模组
- 下一篇:治疗腱鞘炎叉形针头刀