[实用新型]用于集成电路测试的纳米管探针结构无效
申请号: | 02260482.0 | 申请日: | 2002-10-08 |
公开(公告)号: | CN2574215Y | 公开(公告)日: | 2003-09-17 |
发明(设计)人: | 申请(专利权)人: | ||
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G01R1/067 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 台湾省新竹县 竹*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 集成电路 测试 纳米 探针 结构 | ||
【权利要求书】:
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