[发明专利]具有改进开关特性的硅上绝缘体LD金属氧化物半导体结构有效
申请号: | 02800414.0 | 申请日: | 2002-02-08 |
公开(公告)号: | CN1457514A | 公开(公告)日: | 2003-11-19 |
发明(设计)人: | J·佩特鲁泽洛;T·J·莱塔维克;M·R·辛普森 | 申请(专利权)人: | 皇家菲利浦电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/739;H01L29/41 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 章社杲 |
地址: | 荷兰艾恩*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 改进 开关 特性 绝缘体 ld 金属 氧化物 半导体 结构 | ||
【权利要求书】:
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