[发明专利]具有高速输入输出装置的半导体集成电路装置的试验方法及试验装置无效
| 申请号： | 02824261.0 | 申请日： | 2002-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN1599869A | 公开（公告）日： | 2005-03-23 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木守 | 申请（专利权）人： | 独立行政法人科学技术振兴机构 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 具有 高速 输入输出 装置 半导体 集成电路 试验 方法 试验装置 | ||
【权利要求书】：
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