[发明专利]结构高度低的封装元器件及制造方法有效
申请号: | 02826401.0 | 申请日: | 2002-12-11 |
公开(公告)号: | CN1611002A | 公开(公告)日: | 2005-04-27 |
发明(设计)人: | C·霍夫曼;J·波尔特曼;H·克吕格尔 | 申请(专利权)人: | 埃普科斯股份有限公司 |
主分类号: | H03H3/02 | 分类号: | H03H3/02;H03H3/06;H03H3/08;H03H9/05;H03H9/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 胡强;赵辛 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 高度 封装 元器件 制造 方法 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于埃普科斯股份有限公司,未经埃普科斯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/02826401.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。