[发明专利]用于集成电路量度的形态精确化有效
| 申请号： | 03808175.X | 申请日： | 2003-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN1646661A | 公开（公告）日： | 2005-07-27 |
| 发明（设计）人： | 鲍君威;斯瑞尼瓦斯·多迪;尼契尔·扎卡特达;旺韦 | 申请（专利权）人： | 音质技术公司 |
| 主分类号： | C09K15/04 | 分类号： | C09K15/04;C09K15/06;C08G63/02;B65D81/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 量度 形态 精确 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于音质技术公司，未经音质技术公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/03808175.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
