[发明专利]具有易于更换的接口单元的半导体测试系统无效
申请号: | 03808609.3 | 申请日: | 2003-04-14 |
公开(公告)号: | CN1646931A | 公开(公告)日: | 2005-07-27 |
发明(设计)人: | 尼尔·R·本特利;迈克尔·A·丘;韦恩·佩蒂托 | 申请(专利权)人: | 泰拉丁公司 |
主分类号: | G01R31/20 | 分类号: | G01R31/20 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 顾红霞;车文 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 易于 更换 接口 单元 半导体 测试 系统 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰拉丁公司,未经泰拉丁公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/03808609.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:抗血管生成的主动免疫疗法
- 下一篇:歧管和喷嘴之间的热密封