[发明专利]光学测定方法及其装置有效
| 申请号： | 03816174.5 | 申请日： | 2003-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN1666100A | 公开（公告）日： | 2005-09-07 |
| 发明（设计）人： | 松村淳一;林睦 | 申请（专利权）人： | 东丽工程株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01M11/00;G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本大阪*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 测定 方法 及其 装置 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东丽工程株式会社，未经东丽工程株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/03816174.5/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：微波炉
- 下一篇：电源管理控制器及微处理器和微处理器实时电源管理方法
