[发明专利]补偿因受试电子器件故障所造成的测试信号恶化无效
| 申请号： | 03821536.5 | 申请日： | 2003-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN1682124A | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 查尔斯·A·米勒 | 申请（专利权）人： | 佛姆费克托公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方;刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 补偿 电子器件 故障 造成 测试 信号 恶化 | ||
【说明书】：
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