[其他]冷指式多用途样品控温装置在审
申请号: | 101985000000059 | 申请日: | 1985-04-01 |
公开(公告)号: | CN85100059B | 公开(公告)日: | 1986-10-29 |
发明(设计)人: | 曹必松 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | 分类号: | ||
代理公司: | 清华大学专利事务所 | 代理人: | 黄冠颖 |
地址: | 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 冷指式 多用途 样品 装置 | ||
1、一种用于固体和液体的正电子湮没测量、穆斯堡尔谱测量、半导体材料的深能级瞬态谱测量中的实验样品控温装置,其特征在于:装置由冷指状真空样品室,冷却剂容器、电子学控温系统三部分组成,真空样品室内有样品架,样品架上设有加热元件和测温元件,加热元件插在样品架之内,测温元件处于加热元件的对称位置,与加热元件之间的距离不超过两厘米,用于正电子湮没测量时,加热元件和测温元件设置在冷指上盖之下。样品架通过过渡头与真空室内的铜棒相连,铜棒伸出真空室外的部分全部浸入冷却剂中,样品架与过渡头之间是锥形连接,过渡头的形状和材料可以根据不同的实验目的而更换,样品架可以根据控温装置与不同的实验仪器配套使用而更换。
2、一种如权利要求1所述的实验样品控温装置,在正电子湮没测量中测量液体样品时使用一个液体样品盒,液体样品盒的特征在于:包括一个样品盒上盖和一个样品盒底座,二者通过螺钉连接,其间有一塑料密封圈,正电子源通过拧紧螺钉时密封圈的压力密封于两层塑料薄膜之间,两个液体样品室分别置于薄膜与样品盒上盖以及薄膜与样品盒底座之间。
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