[其他]单模光纤双折射测量方法在审

专利信息
申请号: 101985000000420 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85100420B 公开(公告)日: 1988-04-13
发明(设计)人: 黄上元;林宗琦 申请(专利权)人: 上海交通大学光纤技术研究所
主分类号: 分类号:
代理公司: 上海专利事务所 代理人: 颜承根
地址: 上海市法华*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 单模 光纤 双折射 测量方法
【权利要求书】:

1、一种单模光纤双折射的测量方法,特别适用于测量短拍长的单模光纤,其步骤包括:

(a)将单模光纤[5]的一端粘固在光纤固定装置[4]上,另一端粘固在光纤扭曲装置[6]上,并使单色光源[1]输出的光经过前偏振片[2]、前物镜[3]、单模光纤[5]、后物镜[7]、后偏振片[8]、到达光检测器[9];

(b)通过前偏振片[2]与后偏振片[8]的旋转,在光检测器[9]上找到消光位置,记下后偏振片[8]的方位读数τ;

(c)将四分之一波长片[10]装在后物镜[7]与后偏振片[8]之间,保持前偏振片[2]与后偏振片[8]不动,调节四分之一波长片[10]的方位使光检测器[9]保持消光;

(d)将前偏振片[2]的方位增加45度,四分之一波长片[10]的方位增加或减少45度;

(e)调整后偏振片[8]的方位,寻找新的消光位置,记下后偏振片[8]的方位读数γ′;

(f)根据|φ|=|γ+45°-γ′|求出|φ|值;

(g)转动光纤扭曲装置[6],在单模光纤[5]不同的扭曲角的情况下,重复步骤(b)~(f),测出相应的|φ|值。

(h)绘出sin2φ~α2l2曲线,找出该曲线的对称纵轴,测出曲线上距对称纵轴的最近的右侧极值点相对于对称纵轴的横座标a2′l2上述极值点右侧最近的极值点相对于对称纵轴的横座标a2″l2,然后用公式(Ⅰ): …(Ⅰ)

求出双折射值。

此处:△β为单模光纤的双折射;

K为光弹系数,近似值为0.07;

l2为单模光纤未粘部分的长度;

α2为单模光纤未粘部分的扭曲率;

φ为两输出线偏振态的的传输相位差之半。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学光纤技术研究所,未经上海交通大学光纤技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/101985000000420/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top