[其他]一种利用X光机直接获取X光光栅抽样图的方法在审
| 申请号： | 101985000000552 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100552B | 公开（公告）日： | 1988-02-10 |
| 发明（设计）人： | 诸葛向彬;康善存;陈洪山 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 浙江大学专利代理事务所 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 利用 直接 获取 光栅 抽样 方法 | ||
【权利要求书】：
1、一种光栅抽样方法，其特征在于利用摄影机（X光机，X光萤光缩影机等），在原底片〔2〕的药膜面上安装一块紧贴的Ronchi光栅〔1〕，直接对X光进行光栅抽样。
2、按照权利要求1所述的一种光栅抽样方法，其特征在于Ronchi光栅的位置是固定不变的。
3、按照权利要求1和2所述的一种光栅抽样方法，其特征在于摄影机（X光机，X光萤光缩影机等）拍片时与通常一样，只需曝光一次。
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