[其他]多波长分光光度计在审
| 申请号： | 101985000001174 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85101174B | 公开（公告）日： | 1987-03-25 |
| 发明（设计）人： | 野上太郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 董毅民 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 波长 分光 光度计 | ||
1、多波长分光光度计，特别是用于液相色层分析，包括光源（1），采样盒（3），用于对从所说的氘灯光源（1）射出的光束进行色散的光栅（5）和用于在第一波长范围内检测被所说的光栅（5）所色散的光的第一多通道光探测器，其特征在于利用第二个多通道光探测器（7）在第二波长范围内检测被所说的光栅（5）所色散的光，第二波长范围与所说的第一波长范围至少部分重叠，上述第二多通道光探测器（7）利用了与所说的第一多通道光探测器（6）所检测到的上述光的不同干涉级次的光能检测所说的光，并利用处理器（8）来平均所说的第一和第二光探测器（6，7）的每一个输出信号。
2、如权项1中所述的分光光度计，其特征在于所说的第二光探测器（7）是用于在所说的氘灯光源（1）的发光强度较低的波长范围内检测光。
3、如权项1或2中所述的分光光度计，其特征在于所说的第一光探测器（6）检测第一干涉级，第二光探测器（7）检测第二干涉级。
4、如权项5中所述的分光光度计，其特征在于所说的第一光探测器（6）检测在200到600毫微米波长范围内的光，并且所说的第二光探测器（7）检测从400到600毫微米波长范围内的光。
5、如权项3所要求的分光光度计，其特征在于所说的第一光探测器和所说的第二光探测器被整体地结合在一起，因此所说的一个单体光探测器（60）的一部分检测一个干涉级次，它的另一部分用于检测另一个干涉级次。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所，未经株式会社日立制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/101985000001174/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：磁头滑块组件
- 下一篇：淀粉水解液和高含量果糖糖浆的制作方法
- 同类专利
- 专利分类
