[其他]测量高反射率的方法和装置

权利要求书

1、一种测量高反射率的方法是多次反射测量的方法，其特征在于采用具有相同曲率半径的球面反射镜〔1〕和〔3〕组成的对称球面谐振腔多次反射结构，该对称球面谐振腔置于一个可定位旋转180°的转动园盘〔6〕上，测量样品〔2〕放置在通过转动园盘〔6〕的旋转轴线并且和对称球面谐振腔的光轴垂直的位置上，测量样品〔2〕置于光路前和后测出光电信号分别为E₁和E₂，旋转转动园盘〔6〕180°交换两球面反射镜〔1〕和〔3〕的位置，这时测量样品〔2〕置于光路前和后测出的光电信号分别为E₃和E₄，则依公式R＝(E2E4/E₁E₃)^1\4N可获得样品〔2〕的反射率。

2、一种用于实施如权利要求1所述的测量高反射率的专用装置，它包括有平面反射镜和球面反射镜，其特征在于测量高反射率的装置是由球面反射镜〔4〕、平面反射镜〔5〕以及放置在可定位旋转180°的转动园盘〔6〕上的两个相同曲率半径为r的球面反射镜〔1〕和〔3〕形成的对称球面谐振腔组成，在通过转动园盘〔6〕的旋转轴线并与对称球面谐振腔光轴垂直的位置上放置测量样品〔2〕。

3、按权利要求2所述的测量高反射率的装置，其特征在于，在转动园盘〔6〕上，取直径为L的两个端点，相对共轴放置球面反射镜〔1〕和〔3〕，靠球面反射镜中心开有P×q长孔。

4、按权利要求2或3所述的测量高反射率装置，其特征在于，在双光束光谱光度计测量室中的参考光束可采用和测量光束相同的对称的光路结构，并且球面反射镜〔4〕和平面反射镜〔5〕可由一面为球面反射镜，另一面为平面反射镜所构成的二面角棱镜〔11〕代替。