[其他]磁光效应联合测试仪在审

专利信息
申请号: 101985000003001 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85103001B 公开(公告)日: 1987-12-23
发明(设计)人: 王煜明;孟昭富;夏思科 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: 分类号:
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 磁光效应 联合 测试仪
【权利要求书】:

1、一种用于磁光效应材料检测用的磁光效应联合测试仪,它由光源、起偏镜、电磁铁、试样架、检偏镜、读数盘和光强检测系统组成。本发明的特征是在检偏镜〔A〕与电磁铁〔4〕之间放置一个半透镜〔3〕,并且使用的电磁铁〔4〕开有S极小孔〔6〕和N极小孔〔7〕。在电磁铁的一侧安放检测柯尔磁光效应用的检偏镜〔A〕、读数盘〔B〕、光强检测系统〔D〕;在电磁铁的另外一侧安放检测法拉弟磁光效应用的检偏镜〔a〕、读数盘〔b〕、光强检测系统〔d〕。从而用一束光同时实现柯尔磁光效应与法拉弟磁光效应的联合测试。并保证了柯尔磁光效应偏转角的测定为纯极向效果。

本仪器各部件排列顺序是:光强检测系统〔D〕,读数盘〔B〕,检偏镜〔A〕,半透镜〔3〕,电磁铁〔4〕,检偏镜〔a〕,读数盘〔b〕,光强检测系统〔d〕依次排列安放在同一条导轨上,试样架〔5〕安放在电磁铁〔4〕的N,S极之间,而光源〔1〕和起偏镜〔2〕放置在上述导轨之外。由光源〔1〕发出的光,经起偏镜〔2〕照射到半透镜〔3〕上。半透镜〔3〕的镜面放置在合适的角度上,以保证从半透镜反射的光束穿过电磁铁〔4〕的S极小孔〔6〕,垂直照射到试样架〔5〕上面的试样上,一部分光经试样透射并穿过电磁铁〔4〕的N极小孔〔7〕,再穿过检偏镜〔a〕和读数盘〔b〕的轴心小孔〔e〕,照射到光强检测系统〔d〕上,从而检测法拉弟磁光效应经试样反射的一束光按原光路返回,透过半透镜〔3〕、检偏镜〔A〕、读数盘〔B〕的轴心小孔〔E〕,照射到光强检测系统〔D〕上,从而检测柯尔磁光效应。

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