[其他]气体分析仪在审
申请号: | 101985000004270 | 申请日: | 1985-06-05 |
公开(公告)号: | CN85104270B | 公开(公告)日: | 1987-03-04 |
发明(设计)人: | 青木润次;小岛建之助 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | 分类号: | ||
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 王彦斌;石小梅 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气体 分析 | ||
1、一种气体分析仪,它包括一个气体容器;一个位于上述容器一端的光源;在容器的另一端至少有一个光阑孔限定装置,它至少限定一个光阑孔,而该光阑孔是在沿着经过容器的光轴方向上的;在容器这一端的外侧沿着光轴的方向上有光学传感器,用以接收来自上述光阑孔的光线;位于上述光阑孔和上述传感器之间的多层干涉带通滤光片;其特征在于上述光阑孔限定装置,上述干涉滤光片以及上述传感器,是能够沿着光轴的方向作相对运动的,用以改变上述传感器与上述光阑之间的距离。
2、根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于只有上述传感器是能够沿着上述光轴的方向移动的。
3、根据权利要求1所述的气体分析仪,其特征在于只有上述光阑孔限定装置是能够沿着上述光轴的方向移动的。
4、一种气体分析仪,它包括一个气体容器;一个位于上述容器一端的光源;在容器的另一端至少有一个光阑孔限定装置,它至少限定一个光阑孔,而该光阑孔是在沿着经过容器的光轴方向上的;在容器这一端的外侧沿着光轴的方向上有光学传感器,用以接收来自上述光阑孔的光线;位于上述光阑孔和上述传感器之间的多层干涉带通滤光片;其特征在于构成上述光阑孔限定装置的部件,可用以改变上述光阑孔的大小。
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