[其他]试验漆包线与浸渍漆相容性的方法

说明书

一种试验漆包线与浸渍漆相容性的方法，试验方法为对浸漆后的漆包线试样，在加热老化的条件下，测量介电损耗因子ｔｇδ的时间谱及温度谱，根据该谱所反应的老化速度来决定其相容性。本发明还提供一种包括加热装置、热电偶、控温仪、介电分析仪、Ｘ－Ｙ记录仪等的试验相容性的装置。用此法时试样简单，确定相容性快。可以防止由于漆包线的绝缘与浸渍漆之间的不相容而造成的系统绝缘下降甚至被击穿。

本发明涉及一种通过介电损耗测量进行漆包线与浸渍漆相容性试验的方法及其装置。特别是与浸渍漆处理后的漆包线的寿命有关的相容性试验方法与装置。

随着F、H级高分子漆包线在电气设备如变压器及电机等中的广泛应用，为使绝缘结构获得良好的导热、机械、防潮等性能，需要将该绝缘部分浸漆。当漆包线经浸渍漆处理后，两种绝缘材料间的相容性非常重要。如果漆包线上所涂的漆与浸渍漆两种绝缘材料之间的物理、化学或物理化学的综合作用的结果是不相容的，就会造成整个系统的绝缘下降、甚至被击穿。因而应首先进行漆包线与浸渍漆的相容性试验，以便选择适当的绝缘材料组合。相容性试验的方法很多，其中有铅笔硬度法，负重四点交差法等。但上述两种方法可靠性不高。列入美国UL实验室的有关相容性，测试标准有UL1446绝缘材料系统标准，将试样放在密封管内进行老化，然后进行击穿试验。在此基础上我国在83年底也建立了相应的试验标准JB/DQ3111-84，即中国机械工业部电器工业局企业标准电机绝缘结构各组分间相容性评定试验方法。该方法的主要规程是将浸漆后，漆包线封入密封管使其在高于等级温度25℃下老化336小时（14天），然后比较密封老化前后的击穿电压值，根据击穿电压的下降程度来判断其相容性。但此击穿电压法的数据分散性很大，对样品的测定是破坏性的，而且判断相容性需要的时间较长。此外日本日立制作所的田中五郎在75年10月24日公开的特开昭50-134190专利“漆包线和浸渍漆的适合性试验”中提出绝缘电组测定法。该方法为用两根漆包线在园棒料中密绕成螺旋形线圈，并进行离型处理后放入试验管，中心插入聚四氟乙烯园棒，注入浸渍漆后进行硬化、使漆包线做成园筒形试料，经加热老化后吸湿时测定其绝缘电阻，其中老化吸湿交替进行每一个循环为五天即在180℃加热2天，在40℃、95%的比湿下吸湿3天，根据绝缘电阻降到10⁵MΩ时的循环数判断其相容性。但这样做试样制作较为麻烦，而且除加热外还需要有湿度较大的环境，且测出结果所需要的时间仍较长。

为了克服以上缺点本发明的目的是提供一种试样制作简便，能连续非破坏性地进行测量，且所需测试时间较短的方法及设备。

本发明所提供的方法是一种试验漆包线与浸渍漆的相容性的方法包括对用浸渍漆浸渍后的漆包线试样，在加热老化的条件下测量其介电损耗因子tgδ的介电谱，根据介电谱所反应的老化速度来决定其相容性。

本发明还提供了一种对漆包线浸渍后的试样试验其相容性的装置包括可装有漆包线的加热装置，热电偶，控温仪，介电分析仪，X-Y记录仪。介电分析仪的输入端连到放在加热装置中的漆包线试样，并将电测出的tgδ值模拟量输至X-Y记录仪的Y输入端，热电偶的输出送到控温仪以指示加热装置中的温度，控温仪为加热装置供电并控制加温装置内的温度为预定的恒温值，且输出与温度相对应的电压至X-Y记录仪的X输入端。

对附图扼要说明如下：

图1、为相容性试验装置的方块图;

图2、为漆包线单线试样的示意图;

图3a、为漆包线模型线圈的主视图;

图b、为漆包线模型线圈的顶视图;

图4、为各组合方案的时间谱;

图5、为QZY漆包线未浸渍时不同密封老化时间下的tgδ温度谱

图6、为QZY漆包线以11477号漆浸渍后不同密封老化时间下的tgδ温度谱;

图7、为改性QZY漆包线以11477号漆浸渍后不同密封老化时间下的tgδ温度谱;

图8、为tgδ为某一定值时的温度与密封老化时间的关系图;

图9、为击穿电压下降随密封老化时间的下降趋势图;