[其他]胶合板表面缺陷探测头

说明书

一种胶合板表面缺陷探测头。它包括有：一遮光板，此遮光板以其前端与胶合板的一表面接触，并在它上面滑动；一光源，装置在遮光板的一侧；一光学纤维，装置在遮光板的另一侧。光学纤维是这样装置的；它的一端连同遮光板一起与胶合板表面相接触，并在它上面滑动，而它的另一端则对准一光探测器。

本发明涉及一种胶合板表面缺陷探测头，可用于探测出原板材上的各种缺陷，例如，存在于胶合板表面上的节孔、虫孔、裂缝以及类似的缺陷。

在上述领域内的实际情况，是靠工人以目检的办法来确认前述的各种缺陷。本发明的申请人在其先前的日本专利申请№59-188649中，曾提出过一种探测器，可用于探测板形件表面的凹形缺陷。此探测器有一遮光件，此遮光件以其前端与板形件接触并在它上面滑动，还有一拖动系统，可使遮光件与板形件之内产生相对移动，一光源装置于遮光件的一侧，许多个光接收元件装置于遮光件的另一侧，它们之内有一定的间隔，间隔是根据探测和分辩能力来确定的，还有一个控制电路，是为探测出板形件上的凹形缺陷设计的，此电路进行工作所依据的是，当遮光件和板形件之间产生了相对运动，并当遮光件位于凹形部位时，自光源射出的光线将经过板形件表面上的凹形部位，再射向光接受之件。

由工人进行目检存在这样一些问题，如探测精度不稳定，工作效率低，成本高等等。

还有，如上述的日本专利申请№59-188649所说明的那样，探测器具有这样的结构，即在遮光件的另一侧装置有许多个光接受元件。可根据由相应的光接收元件所接受的光线情况（这些光线经过了凹形缺陷）将凹形缺陷探测出来。但是，光线在通过凹形缺陷时，即在到达相应的光接收元件及其邻近的光接收元件之前，经常都散射了。因此，不能极精确地将凹形缺陷所在的部位探测出来。还有，由于光散射将使光量减少。由于上述原因，由相应的元件进行探测的方法具有很多困难。

在美国专利US-A-3600591和德国专利DE-2534023C2中分别公开了一种表面缺陷检测装置，在这些装置中，由于其光接收元件（或探测头）不与被测物表面接触，同样产生了光被散射掉以及探测头上会粘附细小尘粒物而影响接受光的能力等问题。

已实现的本发明的目标是克服先有技术中固有的问题。所以，本发明的总目标是提出一种用于探测胶合板表面上凹形缺陷的装置。借助这种装置，可使光线在到达光探测器，例如光接收元件之前不产生散射，因而可极好地分辩出板形件表面上的凹形缺陷，并能在很长的时间中具有稳定的探测能力。

为了实现上述目标，重要的是提出了一种胶合板表面缺陷探测头。它有一个遮光板，其前端与胶合板表面接触，并在它上面滑动。在遮光板的一侧安装有一光源，在它的另一侧安置有光学纤维。此光学纤维是这样安置的，它的一个端头与遮光板一起与胶合板表面接触并在表面上滑动，而另一端头则对准一光探测器。

根据本发明，遮光板的前端与光学纤维的端头一起，依据探测头与胶合板表面需有相对运动的原则，与胶合板表面接触并在它上面滑动。当遮光板通过胶合板上存在有凹形缺陷的部位时，由光源射出的光线将通过此缺陷并立即自光学纤维的端头处射入到光学纤维之中。与此同时，光学纤维的另一端头将光线射向光探测器。

从下述的实施方案及附图的详细说明中，可对发明本身、其优点以及发明的其他目标有更好的了解。

图1所示为根据本发明一个最佳实施方案所设计的胶合板表面缺陷探测头的透视图;

图2所示为图1的一部分的放大图，它对本发明是重要的;

图3所示为与图2相似的另一个放大图，是属于另一经过改动的实施方案的，其中的光学纤维的一个端头不与胶合板的表面接触，也不在它上面滑动;

图4所示为与图2相似的另一个放大图，是属于另一个经过改动的实施方案的，比图2多加了一个磨损控制板;

图5所示为与图2相似的另一个放大图，但所示出的是一不希望有的例子，仅为说明用;

图6所示为将本发明实施于一宽度较大的胶合板上时的示意平面图;

图7为图6的侧视图;

图8所示为一光学纤维端头的前视图;