[其他]恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪在审

专利信息
申请号: 101986000001835 申请日: 1986-03-25
公开(公告)号: CN1003140B 公开(公告)日: 1989-01-25
发明(设计)人: 张国威 申请(专利权)人: 北京工业学院
主分类号: 分类号:
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 偏向 高分辨率 棱镜 光谱仪
【权利要求书】:

1、恒偏向高分辨率变束棱镜光谱仪,由入射狭缝〔1〕,出射狭缝〔2〕,准光物镜〔3〕,成象物镜〔4〕和变束棱镜组组成,其特征在于,变束棱镜组是由1~5对变束棱镜组成,其中每一对棱镜是由棱镜折射角Ai相等,材料相同的变束棱镜构成为一个恒偏向分光单元,棱镜折射角Ai为20°~45°,分光时,只需转动后一个转向变束棱镜,即可实现恒偏向分光。

2、按权利要求1所说的光谱仪,其特征在于,每一个分光单元(棱镜对)可由一个普通变束棱镜〔5〕和一个转向变束棱镜组成一个90°恒偏向分光单元,也可由两个转向变束棱镜组成一个0°或180°恒偏向分光单元,其中转向变束棱镜可以是一种由90°转向棱镜和普通变束棱镜构成的组合棱镜,也可以是一整块棱镜,可以是“锐角转向变束棱镜”,其棱镜折射角为45°+Ai,也可以是“钝角转向变束棱镜”,其棱镜折射角为90°+Ai

3、按权利要求1所说的光谱仪,其特征在于,可以由若于恒偏向分光单元和单独的一块棱镜组成一个准恒偏向分光系统,同时旋转该单独的棱镜,也可以形成恒偏向的出射光。

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