[其他]微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 101987000007345 申请日: 1987-12-07
公开(公告)号: CN1004173B 公开(公告)日: 1989-05-10
发明(设计)人: 倪尔湖;施铁矛;张志鸣;沈建华 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: 分类号:
代理公司: 浙江大学专利代理事务所 代理人: 张法高
地址: 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 微波 吸收 材料 介电常数 磁导率 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1、一种微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法为:测量待测样品的两个散射系数S11和S21,用下列公式计算该样品的材料复磁导率μ和复介电常数ε:

测量S11和S21步骤为:

a、测量待测样品的厚度1;

b、测量微波信号的波长λ0;

其特征在于还包括以下步骤:

c、将上述微波信号分成两路,一路沿与待测样品厚度方向成小于90°角的方向向样品入射,另一路进行幅度衰减获得参考信号,再与样品上的反射信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得衰减量Ari和驻波节点的位置Pri;

d、在与样品前平面同位置处装上短路板,将它的反射信号与参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得对反射定标的衰减量Aro和驻波节点的位置Pro;

e、计算衰减量的变化Ar=Ari-ro和驻波节点的移动:

Pr=Pro-Pri+nλg/2<λg/2,n=0,1,2……,

其中λg=,式中λc是截止波长,

获得散射系统S11;

f、将来自上述待测样品的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得衰减量Ati和驻波节点的位置Pti;

g、将无样品状态下的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得对透射定标的衰减量Ato和驻波节点的位置Pto;

h、计算衰减量的变化At=Ati-Ato和驻波节点的移动;

Pt=Pti-Pto,获得散射系数S21

2、一种微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试系统包括:

a、微波信号单元,由相继连接的微波信号源〔1〕、第一隔离器〔2〕、第一定向耦合器〔3〕、第二隔离器〔4〕、第二定向耦合器〔5〕和第一匹配负载〔6〕组成;所述第一定向耦合器〔3〕输出参比信号〔Ⅰ〕,第二定向耦合器〔5〕输出源信号〔Ⅱ〕;其特征在于,它还包括:

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