[发明专利]嵌入式DRAM阵列的测试方法无效
| 申请号： | 200310103455.8 | 申请日： | 2003-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN1499533A | 公开（公告）日： | 2004-05-26 |
| 发明（设计）人： | L·S·查德威克;W·R·科尔宾;J·H·德雷拜尔贝斯;B·R·凯斯勒;E·A·纳尔逊;T·E·奥布雷姆斯基;齐藤俊晴;D·L·威特尔 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于静;李峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 嵌入式 dram 阵列 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
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