[发明专利]一种使用CR电路测试集成电路内部电容的方法有效
申请号: | 200310108504.7 | 申请日: | 2003-11-07 |
公开(公告)号: | CN1542457A | 公开(公告)日: | 2004-11-03 |
发明(设计)人: | 浜岛明;刘旸 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R31/28 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人: | 陆飞;沈云 |
地址: | 200233上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 使用 cr 电路 测试 集成电路 内部 电容 方法 | ||
【权利要求书】:
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