[发明专利]测量光学透明体的光学和物理厚度的方法无效
| 申请号： | 200310113599.1 | 申请日： | 2003-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN1501049A | 公开（公告）日： | 2004-06-02 |
| 发明（设计）人： | 加斯;加撒帕拉 | 申请（专利权）人： | 美国飞泰尔有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京银龙专利代理有限公司 | 代理人： | 钟晶 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 光学 透明体 物理 厚度 方法 | ||
【权利要求书】：
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