[发明专利]使用导波的非破坏性检查装置及非破坏性检查方法有效
| 申请号： | 200310123047.9 | 申请日： | 2003-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN1573328A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | 永岛良昭;小池正浩;松井哲也 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01N29/00 | 分类号： | G01N29/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩惠琴 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 使用 导波 破坏性 检查 装置 方法 | ||
【说明书】：
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