[发明专利]像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法无效
| 申请号： | 200380107363.5 | 申请日： | 2003-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN1732693A | 公开（公告）日： | 2006-02-08 |
| 发明（设计）人： | 米田丰;小矶学 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | H04N9/07 | 分类号： | H04N9/07 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邸万奎;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 像素 缺陷 检测 校正 设备 以及 方法 | ||
【权利要求书】：
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