[发明专利]用于探测半导体电路中的未使用状态的方法和设备有效
申请号: | 200380108345.9 | 申请日: | 2003-12-29 |
公开(公告)号: | CN1754101A | 公开(公告)日: | 2006-03-29 |
发明(设计)人: | S·C·霍尔默 | 申请(专利权)人: | 恩莫辛美国有限公司 |
主分类号: | G01N37/00 | 分类号: | G01N37/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯;梁永 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 探测 半导体 电路 中的 使用 状态 方法 设备 | ||
【说明书】:
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