[发明专利]薄膜电容元件用组合物、高介电常数的绝缘膜、薄膜电容元件、薄膜积层电容器、电路和电子仪器无效
| 申请号： | 200380110280.1 | 申请日： | 2003-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN1768403A | 公开（公告）日： | 2006-05-03 |
| 发明（设计）人： | 坂下幸雄;舟洼浩 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | H01G4/33 | 分类号： | H01G4/33;H01G4/20;H01G4/12;H01L27/04;H01L27/108 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 孙秀武;邹雪梅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 薄膜 电容 元件 组合 介电常数 绝缘 电容器 电路 电子仪器 | ||
【权利要求书】：
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