[发明专利]用于分析暴露测试中涂层的方法和系统无效
| 申请号： | 200410057522.1 | 申请日： | 2004-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN1584547A | 公开（公告）日： | 2005-02-23 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·W·林赛;爱德华·A·施密特;马克·R·舒尔 | 申请（专利权）人： | 罗姆和哈斯公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01N21/84;G01N21/25;G06F19/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国宾*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 搜索关键词： | 用于 分析 暴露 测试 涂层 方法 系统 | ||
【说明书】：
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