[发明专利]超精细过采样方法和装置有效
| 申请号： | 200410071481.1 | 申请日： | 2004-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN1573346A | 公开（公告）日： | 2005-02-02 |
| 发明（设计）人： | M·S·哈根;K·C·斯皮萨克 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177;G06F11/25 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 精细 采样 方法 装置 | ||
【权利要求书】：
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