[发明专利]多台变频器老化测试装置及其方法无效
| 申请号： | 200410084230.7 | 申请日： | 2004-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN1779472A | 公开（公告）日： | 2006-05-31 |
| 发明（设计）人： | 王会华;纪正达;钱匡;胡新宇 | 申请（专利权）人： | 上海神源电气有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 薛琦 |
| 地址： | 201101上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 变频器 老化 测试 装置 及其 方法 | ||
【权利要求书】：
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