[发明专利]电子元件本体的绝缘结构及其形成方法无效
申请号: | 200410088578.3 | 申请日: | 2004-11-05 |
公开(公告)号: | CN1770340A | 公开(公告)日: | 2006-05-10 |
发明(设计)人: | 曾明灿 | 申请(专利权)人: | 力毅国际有限公司 |
主分类号: | H01G4/005 | 分类号: | H01G4/005;C07C15/08;H01F17/00;H01F27/00;H05K13/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 彭焱 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 本体 绝缘 结构 及其 形成 方法 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于力毅国际有限公司,未经力毅国际有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200410088578.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种处理空气中恶臭污染物的生物滴滤床
- 下一篇:半胱氨酸的比色检测分析方法