[发明专利]检测缺陷像素的方法无效
| 申请号： | 200480001745.4 | 申请日： | 2004-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN1723384A | 公开（公告）日： | 2006-01-18 |
| 发明（设计）人： | 彼得·杜尔 | 申请（专利权）人： | 麦克罗尼克激光系统公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G02B26/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马高平;杨梧 |
| 地址： | 瑞典*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 缺陷 像素 方法 | ||
【说明书】：
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