[发明专利]脱离检测设备和方法无效
| 申请号： | 200480006536.9 | 申请日： | 2004-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN1759027A | 公开（公告）日： | 2006-04-12 |
| 发明（设计）人： | 大槻好之 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | B60R25/10 | 分类号： | B60R25/10;B60B3/16 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 陆锦华;关兆辉 |
| 地址： | 日本京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 脱离 检测 设备 方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社，未经欧姆龙株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200480006536.9/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：通过边缘电子邮件服务器实施权限管理
- 下一篇：半导体集成电路
