[发明专利]用于测试光盘耐用性的装置和方法有效

专利信息
申请号: 200480007427.9 申请日: 2004-03-17
公开(公告)号: CN1761866B 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 金真弘;徐勋;李昌镐;郑台熙;郭锦哲;李承远 申请(专利权)人: LG电子株式会社
主分类号: G01N3/46 分类号: G01N3/46
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏凯;谢丽娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 光盘 耐用性 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于测试光盘的装置和方法,且更为具体的说,涉及一种用于测试光盘的表面的耐用性的装置和方法。虽然本发明适合于更宽的应用范围,其具体地说适于提供一种用于测试光盘的耐用性的标准化准则,从而提高耐用性测试的可靠性。

背景技术

在近来的技术中,记录介质包括磁带、诸如激光唱片和密纹唱片的光盘,以及能够存储大容量信息的数字视频光盘(DVD)。近来,蓝光光盘(BD)的标准化正在进行中,蓝光光盘(BD)是能够记录大容量、高质量的视频和音频数据的新的高密度光盘。在上述的记录介质之中,与常规的磁带不同,光盘以数字记录方法存储数据,并且体积非常小和轻,因此便于储藏和携带。

但是,光盘具有形成在光盘表面上的划痕、缺陷和在制造过程期间形成的外来的材料的缺点,其使光盘的功能显著地恶化。因此,需要各种各样的测试去解决和克服上述的问题。例如,光盘的功能和耐用性是通过基于由光盘显示的信号测量高频信号、信号的不稳定性、聚焦误差信号、跟踪误差信号等等来测试的。

执行耐用性测试以测试在光盘的表面上形成的、防止物理损伤的保护层的耐用性。在近来的技术中,最广泛使用的耐用性测试的类型是铅笔硬度测试和短小突出部磨损测试。

在铅笔硬度测试中,每个具有不同硬度的多个铅笔接触在光盘的表面上,以便擦伤光盘的表面。在此处,基于在光盘的表面上产生擦伤的铅笔的硬度测试光盘的耐用性。另一方面,在短小突出部磨损测试中,将砂轮用于消磨光盘的表面,并且基于其光盘的磨耗量来测试光盘的耐用性。

但是,在铅笔硬度测试中,测试器手动地在光盘的表面上接触每个铅笔,因此,测试器不能在该铅笔上施加均匀的压力。最终,擦伤的形状和位置不可能是均衡的。此外,在短小突出部磨损测试中,当使用砂轮时,在光盘的表面上的磨损与在光盘上的擦伤是非常不同的。因此,基于由砂轮所引起的磨耗量的光盘的耐用性测试是不适当的。此外,因为在两个测试方法中,没有标准化光盘是否是正常的或者是有缺陷的准则,用于光盘耐用性的测试结果可能不是非常可靠的。

发明内容

据此,本发明提出了一种用于测试光盘耐用性的装置和方法,其基本上消除了由于现有技术的限制和缺点引起的一个或多个问题。

本发明的目的是提供一种用于测试光盘的耐用性的装置和方法,其对于耐用性测试具有更高的可靠性。

本发明的另一目的是提供一种用于测试光盘的耐用性的装置和方法,其具有用于该耐用性测试的标准化准则。

本发明的其它优点、目的和特征将在随后的说明中部分地描述,经过以下检验或从本发明的实践中学习,上述优点、目的和特征对于本领域的普通技术人员来说是显而易见的。本发明的目的和优点可以如所附说明书及其权利要求书和附图中所特别指出的来实现和获得。

为了实现这些目的和其他的优点,和按照本发明的目的,如在此处具体地和广泛地描述的,一种用于测试光盘耐用性的装置,包括:旋转盘,其配置成旋转光盘;划痕单元,其配置成在由旋转盘旋转的光盘的表面上产生划痕;和框架,其在划痕单元上提供由框架自己的重量所引起的压力或者由蒸气所引起的压力,并且导致划痕单元接触光盘,以便在光盘的表面上产生划痕;其中,该划痕单元包括配置成在光盘的表面上产生划痕的划痕器,和配置成固定划痕器的保持器。

该划痕器是由钢丝绒形成的。

该框架提供在50至5000gf/cm2范围内的预定的压力给划痕单元。

在本发明的另一方面中,一种用于测试光盘耐用性的方法包括:将光盘放置在旋转盘上;随同旋转盘一起旋转光盘;在光盘旋转预定数量的旋转圈数的同时使用划痕单元向光盘施加压力,以便因与划痕单元的接触而在光盘的表面上产生划痕;和基于在光盘的表面上产生的划痕来确定光盘的耐用性,其中,该压力是由框架在该划痕单元上提供的由框架自己的重量所引起的压力或者由蒸气所引起的压力。

在此处,给划痕器提供预定的压力包括使光盘旋转5圈或者更少。

取决于光盘旋转的预定数量的圈数,施加于划痕器的压力被不同地判定。并且,当光盘的旋转的预定数量的圈数高的时候,施加于划痕器的压力被判定是处于低水平,并且当光盘的旋转的预定数量的圈数低的时候,施加于划痕器的压力被判定是处于高水平。在此处,施加于划痕器的压力被判定是在500至1500gf/cm2的范围内。

确定光盘的耐用性包括当划痕的深度等于或者大于2微米(μm)的时候确定光盘是有缺陷的,和当划痕的深度小于2微米(μm)的时候确定光盘是正常的。

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