[发明专利]各向异性导电性连接器以及晶片检测装置无效
申请号: | 200480016161.4 | 申请日: | 2004-06-01 |
公开(公告)号: | CN1806178A | 公开(公告)日: | 2006-07-19 |
发明(设计)人: | 五十嵐久夫;佐藤克己;井上和夫 | 申请(专利权)人: | JSR株式会社 |
主分类号: | G01R1/073 | 分类号: | G01R1/073;H01R11/01;H01L21/66 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 各向异性 导电性 连接器 以及 晶片 检测 装置 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于JSR株式会社,未经JSR株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200480016161.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。