[发明专利]荧光X射线分析装置有效
| 申请号： | 200480023453.0 | 申请日： | 2004-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN1836156A | 公开（公告）日： | 2006-09-20 |
| 发明（设计）人： | 住居弘咨;青柳光一 | 申请（专利权）人： | 理学电机工业株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 | ||
【说明书】：
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