[发明专利]用于自动检测集成电路锁存器中的软错误的系统和方法无效
| 申请号： | 200480035715.5 | 申请日： | 2004-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN1890879A | 公开（公告）日： | 2007-01-03 |
| 发明（设计）人： | R·施奈德尔 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份公司 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003;G06F11/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 顾珊;魏军 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 自动检测 集成电路 锁存器 中的 错误 系统 方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英飞凌科技股份公司，未经英飞凌科技股份公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200480035715.5/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
