[发明专利]测量光学材料的双折射的系统和方法无效
| 申请号： | 200480037088.9 | 申请日： | 2004-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN1894568A | 公开（公告）日： | 2007-01-10 |
| 发明（设计）人： | R·W·夏普斯 | 申请（专利权）人： | 康宁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 钱慰民 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量 光学材料 双折射 系统 方法 | ||
【说明书】：
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