[发明专利]在感应耦合等离子体刻蚀中保护刻蚀结构的方法无效

专利信息
申请号: 200510012079.0 申请日: 2005-07-01
公开(公告)号: CN1891617A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 阮勇;张大成;王阳元;张兴;李婷;田大宇;罗葵;王兆江;于晓梅;杨芳;李修函;刘晓娣 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;H01L21/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 感应 耦合 等离子体 刻蚀 保护 结构 方法
【说明书】:
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