[发明专利]半导体电路装置及测试半导体装置系统无效
| 申请号： | 200510089570.3 | 申请日： | 2005-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN1747070A | 公开（公告）日： | 2006-03-15 |
| 发明（设计）人： | R·阿尔诺德;G·弗兰科维斯基;W·斯皮克 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 梁永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 电路 装置 测试 系统 | ||
【说明书】：
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