[发明专利]检测电容变化的方法和集成电路有效
| 申请号： | 200510090301.9 | 申请日： | 2005-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN1743855A | 公开（公告）日： | 2006-03-08 |
| 发明（设计）人： | 李相喆 | 申请（专利权）人： | 爱迪半导体株式会社 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 电容 变化 方法 集成电路 | ||
【说明书】：
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