[发明专利]集成电路测试装置无效
| 申请号： | 200510106799.3 | 申请日： | 2005-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN1760689A | 公开（公告）日： | 2006-04-19 |
| 发明（设计）人： | 横须贺拓也 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 装置 | ||
【说明书】：
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