[发明专利]一种检测氮化镓基半导体发光二极管结温的方法有效
| 申请号： | 200510111361.4 | 申请日： | 2005-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN1786690A | 公开（公告）日： | 2006-06-14 |
| 发明（设计）人： | 陆卫;夏长生;李志锋;张波;李宁;陈效双;陈明法 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所;上海蓝宝光电材料有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65;G01N25/00;G01N27/00;G01N33/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 20008*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 检测 氮化 半导体 发光二极管 方法 | ||
【权利要求书】：
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