[实用新型]40线扁平封装混合集成电路老化试验插座无效
| 申请号： | 200520015468.4 | 申请日： | 2005-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN2786830Y | 公开（公告）日： | 2006-06-07 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 | 申请（专利权）人： | 曹宏国 |
| 主分类号： | H01R33/74 | 分类号： | H01R33/74;H01R13/627;H01R13/629;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 313119浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 40 扁平封装 混合 集成电路 老化试验 插座 | ||
【权利要求书】：
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