[发明专利]光电子测定装置无效
| 申请号： | 200580007752.X | 申请日： | 2005-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN1930468A | 公开（公告）日： | 2007-03-14 |
| 发明（设计）人： | 中岛嘉之;山下大辅 | 申请（专利权）人： | 理研计器株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/227 | 分类号： | G01N23/227 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;刘宗杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光电子 测定 装置 | ||
【说明书】：
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