[发明专利]支持开放架构测试系统中的校准和诊断无效
申请号: | 200580016355.9 | 申请日: | 2005-05-23 |
公开(公告)号: | CN1981203A | 公开(公告)日: | 2007-06-13 |
发明(设计)人: | 足立敏明;安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 杨生平;杨红梅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支持 开放 架构 测试 系统 中的 校准 诊断 | ||
【说明书】:
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