[发明专利]支持开放架构测试系统中的校准和诊断无效

专利信息
申请号: 200580016355.9 申请日: 2005-05-23
公开(公告)号: CN1981203A 公开(公告)日: 2007-06-13
发明(设计)人: 足立敏明;安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/319 分类号: G01R31/319
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨生平;杨红梅
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 支持 开放 架构 测试 系统 中的 校准 诊断
【说明书】:
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