[发明专利]具有散射辐射校正的X射线探测器有效
| 申请号： | 200580021181.5 | 申请日： | 2005-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN1973213A | 公开（公告）日： | 2007-05-30 |
| 发明（设计）人： | B·施维瑟;G·沃格特梅尔;K·J·恩格尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/164 | 分类号： | G01T1/164 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;王勇 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 具有 散射 辐射 校正 射线 探测器 | ||
【权利要求书】：
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