[发明专利]抗斑点衰落的光学定位装置无效

专利信息
申请号: 200580022467.5 申请日: 2005-05-18
公开(公告)号: CN101111881A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: D·A·莱霍蒂;C·B·罗克斯洛;J·I·特里斯纳迪;C·B·卡利斯尔 申请(专利权)人: 硅光机器公司
主分类号: G09G3/34 分类号: G09G3/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;王忠忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 斑点 衰落 光学 定位 装置
【权利要求书】:

1.一种光学定位设备,配置成抗斑点衰落,所述设备包括:

相干光源,用于用激光器光来照射表面;

检测器,配置成获取所照射表面的连续数据帧,

其中所述检测器包含N行,每行包括多个光敏元件。

2.如权利要求1所述的设备,其中使用所述N行而不是单行将路径差错减小到0.5%或更小。

3.如权利要求1所述的设备,其中N至少是三,且每行中的所述多个光敏元件至少是一百二十。

4.一种光学定位设备,配置成抗斑点衰落,所述设备包括:

相干光源,用于用激光器光来照射表面;

检测器,配置成从所照射表面获取连续的强度数据帧;

计算电路,配置成根据所述强度数据计算速度数据;以及

滤波电路,配置成减少在所述速度数据中来自斑点衰落的影响。

5.如权利要求4所述的设备,其中所述滤波电路去除来自低幅度线信号的速度数据。

6.如权利要求4所述的设备,其中所述滤波电路在来自较高幅度线信号的速度数据上加较大的权重。

7.一种光学位移传感器,用于通过确定在表面的连续图像中光学特性的位移来感测数据输入装置和所述表面之间的相对移动,所述传感器包括:

检测器,具有第一阵列,第一阵列包括平行于第一轴排列的多行光敏元件,每行包括多组光敏元件,每组具有M个光敏元件;以及

其中来自一组中每个所述光敏元件的信号与其它组中对应的光敏元件电连接,以从光敏元件的M个交错组群中产生M个独立的组群信号。

8.如权利要求7所述的光学位移传感器,其中所述多行光敏元件包括多个线性梳形阵列(LCA)。

9.如权利要求8所述的光学位移传感器,其中所述多个LCA包括至少两个LCA,每个LCA具有每组不同数量(M)的光敏元件。

10.如权利要求8所述的光学位移传感器,其中所述LCA具有每组相等数量的光敏元件。

11.如权利要求8所述的光学位移传感器,其中所述LCA都没有所述光敏元件数(M)等于四的组。

12.如权利要求9所述的光学位移传感器,其中每个LCA具有所述光敏元件数M等于三、五或六的组。

13.如权利要求8所述的光学位移传感器,还包括:

比较电路,用于对来自每个LCA的每个线信号的幅度与来自其它LCA的线信号的幅度进行比较;以及

选择电路,用于选择具有最大幅度的线信号。

14.如权利要求8所述的光学位移传感器,还包括用代数方法组合来自所述多个LCA中每个的组群信号的电路。

15.如权利要求14所述的光学位移传感器,其中所述用代数方法组合所述组群信号的电路包括加权电路,以加权来自每个LCA的每个组群信号。

16.如权利要求15所述的光学位移传感器,其中每个所述组群信号用同相加权系数(S1)和正交加权系数(S2)加权。

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